Burn In Test

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Burn In Test, em tradução livre, é um teste de estresse utilizado para avaliar a estabilidade e a durabilidade de componentes eletrônicos e sistemas de hardware. O processo envolve submeter o dispositivo a condições extremas de operação, como altas temperaturas e voltagens, durante um período prolongado. O objetivo é identificar falhas prematuras ou defeitos de fabricação que possam surgir com o uso contínuo. Ao simular um uso intenso, o Burn In Test ajuda a garantir a qualidade e a confiabilidade do produto antes de ser disponibilizado para o consumidor final.

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